Перевод: с английского на украинский

с украинского на английский

electron-beam prober

См. также в других словарях:

  • Electron Beam Prober — The Electron Beam Prober (E beam Prober) is a specialized adaption of a standard Scanning Electron Microscope (SEM) that is used for semiconductor failure analysis. While a standard SEM may be operated in a voltage range of 25KeV to 30KeV, the E… …   Wikipedia

  • Failure analysis — is the process of collecting and analyzing data to determine the cause of a failure. It is an important discipline in many branches of manufacturing industry, such as the electronics industry, where it is a vital tool used in the development of… …   Wikipedia

Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»